Rohs有害元素檢測儀 鍍層厚度分析儀主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準，使之更加有利于人體健康及環境保護。該標準的目的在于消除電器電子產品中的鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯和多溴二苯醚（注意：PBDE正確的中文名稱是指多溴二苯醚，多溴聯苯醚是錯誤的說法）共6項物質，并重點規定了鎘的含量不能超過0.01%。

Rohs有害元素檢測儀 鍍層厚度分析儀在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款。RoHS它是the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment的英文縮寫，是電氣、電子設備中限制使用某些有害物質的指令的意思。

從2006年7月1日起，電子電氣設備中禁止使用鉛、汞、六價鉻、鎘、多溴聯苯(PBB)和多溴聯苯醚(PBDE)；鎘的指標為100 ppm (0.01%)，其他五種為1000 ppm (0.1%)。企業對歐盟出口的所有產品必須符合上述配額要求，并應展示相應的證明文件。不符合要求的產品將被拒絕進入歐盟市場。下面介紹RoHS指令中六種有害物質的檢測儀器。

一、x射線熒光光譜儀

1、適用范圍:塑料零件、金屬零件和電子元件中鉛、汞、鎘、總鉻和溴的篩選試驗，即RoHS六項檢測！

2、技術特點:樣品中鉛、汞、鎘、鉻和溴的快速定性分析。均質樣品無需制樣，可進行無損檢測。注:Cr和Br是測得的該元素的總含量。如果顯示超標，不代表ⅳ價Cr、PBB、PBDE超標。

兩款ROHS2.0十項有害物質檢測儀器介紹：

針對EDX 1800B在各個領域的廣泛應用，根據優化產品性能和提高安防護等級的需求，特別設計該款EDX 1800E。應用新代的高壓電源和X光管，提高產品的性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

應用領域：RoHS檢測分析，地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析，金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定，金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測，主要用于RoHS指令相關行業、貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

性能優勢：下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用，移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點，高分辨率探測器：提高分析的性
新代的高壓電源和X光管：性能穩定，高達50W的功率實現更高的測試效率，檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩定性0.05%，新代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環境狀態下相等
性能穩定，高達50W的功率實現更高的測試效率，儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您方位防護。

銷售.安裝.培訓.維護ROHS測試儀,ROHS檢測儀,ROHS2.0檢測儀器,八大重金屬檢測儀器等儀器的誠信供應商。從事分析測試儀器和化工儀器銷售的企業。專為電子. 塑膠. 鞋業. 皮具. 皮革. 五金.玩具.國家質檢.考古.鋼鐵.紙品等企業提供完善的儀器和實驗室整套建設。

   銷售范圍：ROHS檢測儀、ROHS檢測設備鄰苯6P/7P/16P/22P檢測儀、無鉛檢測儀、xrf測試儀、八大重金屬檢測儀、HPLC高效液相色譜儀、GC/MS氣相色譜質譜聯用儀、ICP電感耦合等離子發射光譜儀AAS火焰/石墨爐原子吸收分光光度計.AFS原子熒光光譜儀等儀器。

產品主要包括EDX-  XRF、IC  離子色譜儀、AAS、HPLC檢測儀、手持式XRF等：ROHS檢測儀,EN71檢測儀，鉛檢測儀器，無鉛測試儀器ROHS檢測儀,EN71檢測儀,玩具安全檢測儀,含鉛量檢測儀,ROHS測試儀器,鞋業八大重金屬檢測儀,鞋業有害物質檢測儀器。HPLC測試儀，提供儀器銷售、技術培訓、信息咨詢等服務，積累了各種成品及電子部件豐富的應對經驗。我們服務過的客戶包括：富士康、三星、LG、華為電子、TUV、BV、SGS、ITS、賽寶、華為科技、華為通訊、華為3com、愛默生、Phillip、Microsoft、華寶鞋業、等等。深獲客戶的信賴和支持。

rohs檢測儀器產品資料介紹，rohs檢測儀器技術參數和配置請咨詢公司提供rohs檢測儀器edx1800b是應對歐盟環保rohs指令的有害物質ROHS測試儀，適合工廠使用，操作簡便!高可靠穩定性高壓電源和X光管，提高了產品的可靠性。智能的防護措施新進，準確的分析軟件和分析方法。多元的
線性回歸方法，和降低元毒間的吸收，增應，高分辨率，高計數率，提高工作效率。
X熒光光譜測試儀器用于檢測rohs指令中的Pb、Cd、Hg、六價Cr以及總Br、CI等元素含量的儀器，X熒光光譜測試儀器適合塑料，電子電子，玩具，皮革，線路
板，汽車內飾，設備等是否符合歐盟指令標準的檢測儀器
rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測
到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含量。